項目

規格

說(shuō)明(míng)

長(cháng)度

16mm

不(bù)含金(jīn)屬插頭部分(fēn)

顔色

白(bái)色半霧面

材質

Overmold

&Cable & Housing &其他(tā)輔料

NON-PVC

無鹵

滿足ROSH, 且無如(rú)下(xià)有(yǒu)害物(w&←ù)質添加:

溴系阻燃劑Brominated Flame Retardants

氯系阻燃劑Chlorinated Flame Retardants

聚氯乙烯Polyvinyl Chloride (PVC)

鄰苯二甲酸酯Phthalates

三氧化(huà)銻 Antimony Trioxide

铍及其化(huà)合物(wù) Beryllium (Be) and its compounds

接口

USBμB receptacle  to TYPE C plug

滿足5V 3A

其他(tā)

應符合5.2節測試标準

Voltage Rating:30VAC/DC

Signal Name

Wire Gauge (AWG)

VBUS /GND

端到(dào)端阻抗不(bù)大(dà)于80mΩ

Table 3-20 USB Type-C to USB 2.0 AM Wiring USB Type-C Plug

USB 2.0  AM

Pin

Signal Name

Pin

Signal Name

A1, B1, A12, B12

GND

4

GND

A4, B4, A9, B9

VBUS

1

VBUS

A5

CC

A6

Dp1

3

D+

A7

Dn1

2

D−

Shell

Shield

Shell

Shield

Notes:

1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug sha$ ®¶ll be connected to VBUS through a resistor Rp.ε& See Section 4.5.3.2.2 and Table 4-13 for t₹"​he functional description and value of Rp.

2. Contacts B6 and B7 should not be pre←™sent in the USB Type-C plug.

3. All VBUS pins shall be connected together wit∏Ω‌πhin the USB Type-C plug. B>•©÷ypass capacitors are not required for the ¶≥VBUS pins at  this cable.

4. All Ground return pins shall δ♦δbe connected togetheπγ®r within the USB Type-C plug&↕♥.

5. All USB Type-C plug pins that≥ε are not listed in this tab‍β£le shall be open (not connec≈✘≈ted).

Table 4-13 DFP CC Terminatλδφφion (Rp) Requirements DFP Advertisement

Current Source to 1.7 – 5.5 V

Resistor pull-up to 4.75 – 5.5 V

Resistor pull-up to 3.3 V ± 5%

Default USB Power

80 μA ± 20%

56 kΩ ± 20% (Note 1)

36 kΩ ± 20%

1.5 A @ 5 V

180 μA ± 8%

22 kΩ ± 5%

12 kΩ ± 5%

3.0 A @ 5 V

330 μA ± 8%

10 kΩ ± 5%

4.7 kΩ ± 5%

Notes:

1. For Rp when implemented in the USB ₽♣☆Type-C plug on a USB Type-C£•↑ to USB 3.1 Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Standard-A Cable Assembly, a USB♠​"↓ Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter As πγ£sembly or a USB Type-C captive cable conneε÷'cted to a USB host, a value ofδ®₹₽ 56 kΩ ± 5% shall be used, in order to provide ‍ tolerance to IR drop on VBUS and GND in the cable assembly.

外(wài)觀

金(jīn)屬插頭/pin腳檢查

1、 參照(zhào)樣品和(hé)PDM圖紙(zhǐ)檢驗，線纜兩端插頭的(de)結構外(wài)型（型号）要(‍&yào)求與樣品一(yī)緻；

2、 插頭不(bù)允許氧化(huà)/生(shēng)鏽、殘缺、變形；

3、 用(yòng)幹布（無塵布）能(néng)擦除的(de)髒污，₹γ≠允許；用(yòng)幹布（無塵布）不(bùβ↕€)能(néng)擦除的(de)髒污，不(bù)允許；【注：金(jīn)屬插頭髒污不(bù)良超出1%（不(bù)良數(shù)/樣本數(shù)）時(shí)，提交不(bù)↔≥δ×合格電(diàn)子(zǐ)流确認】

4、 插頭上(shàng)不(bù)允許有(yǒu)油漬；

5、劃痕L≤2mm,W≤0.1mm,用(yòng)手觸摸無深度感，允收一φ♥&≠(yī)條；

6、USB A公插頭內(nèi)不(bù)允許有(yǒu)溢膠的(de)現(xiàn)象；

7、USB A公插頭內(nèi)的(de)連接器(qì)PIN腳不(bù)允許氧化(huà)/生(shēng)鏽、翹高(gāo)、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不(bù)良；

8、金(jīn)屬插頭（USBA公以及TYPE C公）與注塑部分(fēn)匹配正常，不(bù)允許歪斜，夾角90^o±2.5^o

标簽檢查

1、參照(zhào)樣品和(hé)PDM圖紙(zhǐ)檢驗，标簽上(shàng)的(de)印刷圖案和(hé)字體 λ←(tǐ)要(yào)求一(yī)緻；

2、标簽不(bù)允許破損、漏貼；

注塑部位

1、注塑部位（USB A公外(wài)膜、DC插頭外(wài)膜、磁環外(wài)膜）不(bù)允許缺膠、破損；

2、合模線(毛邊)H≤0.2mm；

3、水(shuǐ)口位（毛邊）在不(bù)刺手的(de)前提下(xià)， H≤1mm，可(kě)接收；

4、壓痕L≤5mm，W≤0.2mm，USB A公外(wài)膜每面允收一(yī)條，DC外(wài)膜允收一(yī)條；

5、點狀壓痕D≤1.5mm，USB A公外(wài)膜每面允收一(yī)條，DC外(wài)膜允收一(yī)條；

線材外(wài)觀

1、 線材不(bù)允許有(yǒu)破損、漏銅；

2、 線材上(shàng)不(bù)允許有(yǒu)髒污；

3、 點狀壓痕D≤2.5mm，DS≥25mm，允收6個(gè)；

4、 線狀壓痕L≤5mm，W≤1mm，DS≥25mm，允收3條；紮帶下(xià)的×"₽(de)壓痕允許；

5、 有(yǒu)感刮傷：L≤5mm,W≤1mm，DS≥25mm，允收2條；無感刮傷：L≤30mm,W≤1mm，DS≥30mm，允收3條；

NO

Test description

Test procedure

Performance

Related standard

1

插拔耐久測試

數(shù)據線插頭無破損，配件(jiàn)插頭尺寸在規格內(nèi)，接觸良好(hγ§♥αǎo)，電(diàn)氣性能(néng)正常。

測試前，測試後插拔力應滿足要(yào)求，樣σ↔§φ品外(wài)觀結構、功能(néng)及電(diàn)氣性能(néng)應正常ε♦££，允許端子(zǐ)接觸點表面有(yǒu)正常磨§××損，但(dàn)不(bù)允許有(yǒu)物(wù)理(lǐ)損壞

測試速度為(wèi)12.5mm/分(fēn)鐘(zhōng)

l 以插入力和(hé)拔出力測試标準為(wèi)依據，測試TYPE C端子(zǐ)插拔次數(shù)10000次±↕（正反方向各5000次，每2500次換一(yī)個(gè)方向）

l 做(zuò)完25次插拔之後，插拔力變化(huà)不(bù)能(néng)超過33%

l A公插拔1500次

l 測試結束後端子(zǐ)外(wài)觀無異常、插拔力∑≠•需要(yào)滿足要(yào)求

EIA364-09

2

插入力

EIA364-13

1.插拔力測試儀器(qì)

2.測試速度為(wèi)12.5mm/分(fēn)鐘(zΩ€∏hōng)

3.單位為(wèi)N

l 插拔耐久測試前後：

l Type C:插入力5～20N ；

l USB AM: 35N(MAX)

EIA364-13

3

拔出力

EIA364-13

1.插拔力測試儀器(qì)

2.測試速度為(wèi)12.5mm/分(fēn)鐘(zhōng)

3.單位為(wèi)N

l 插拔耐久測試前後：

l Type C:拔出力8～20N 

l USB AM: 10N(Min)

EIA364-13

4

滾筒測試

跌落高(gāo)度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一(yī)次，跌落¥♣速度參考值10-12次/分(fēn)次（以跌落在✔♠​☆滾筒鐵(tiě)闆中心位置為(wèi)準）

l  測試後，樣品外(wài)觀、機(jī)械結構應正常，功能(néng)和(hé)電(δ♠‍<diàn)氣性能(néng)正應常的(de)

5

端子(zǐ)強度測試

1.F1/F2(+/-Y) =50N，做(zuò)到(dào)75N觀察損壞情況
F3,F4(+/-X) =50N
F5(+Z) =100N
F1和(hé)F2方向的(de)測試均采用(yòng)新樣品測試，∏<∞♣F3-F5方向視(shì)情況進行(xíng)互用(yòng)
施力點為(wèi)接口到(dào)SR處15mm（從(cóng)外(wài)殼平面量起15mm；如(rú)SR不(bù)足15mm，以SR的(de)末端為(wèi)施力位置，如(rú)SR末端剛性不(bù)足以施加力，則以剛性位置的(de)末端為(w↔÷<èi)施力位置）
測試速度：5mm/min

l 上(shàng)下(xià)左右4個(gè)方向力量要(yào)求大(dà)于 ¶™☆5.0Kg，插入方向要(yào)求大(dà)于10₹‌×↕Kg，連接器(qì)不(bù)允許有(yǒu)失效，接≈♦β口允許有(yǒu)可(kě)恢複的(de)變形，數(shù≠γδ)據線電(diàn)氣性能(néng)正常；結構無松脫，無斷裂

l 

6

殼體(tǐ)抗拉脫

器(qì)件(jiàn)選型标準:公頭鐵(tiě)殼上(shàng)挂重10kgf，持續時(shí)間(jiān) 1分(fēn<✔✔)鐘(zhōng)

進料檢驗标準: 公頭鐵(tiě)殼上(shàng)挂重6kgf，持續時(shí)間(jβα'πiān) 1分(fēn)鐘(zhōng)

l 兩端殼體(tǐ)都(dōu)需要(yào)測試抗拉α$脫力，測試後兩端殼體(tǐ)不(bù)應有(yǒu)脫<λ£∑落現(xiàn)象

7

端子(zǐ)強度耐久測試

測試力：F1=F2=2kgf
測試次數(shù)：2000次/方向；
施力點為(wèi)接口到(dào)SR處15mm（從(cóng)靠近(jìn‍∑)金(jīn)屬頭尾部量起15mm。如(rú)SR不(bù)足15mm，以SR的(de)€★​末端為(wèi)施力位置，如(rú)SR∏↔σ末端剛性不(bù)足以施加力，則以剛性位置的₽∏↕(de)末端為(wèi)施力位置）；
測試速度：10-15次/min

l 數(shù)據線外(wài)觀結構、功能(néng)及電(diàn)氣性能(n✘&éng)應正常，端子(zǐ)不(bù)應有(yǒu)損壞或嚴重變形

8

端子(zǐ)鍍層膜厚

膜厚測試儀。Type C端/ uB母座。少(shǎo)樣品數(shù)量：每個(gè)端子(zǐ)3pcs☆∑✘

l Type C /B plug Plating gold Au 不(bù)小(xiǎo)于30µ″,Plating N$©‍★i 不(bù)小(xiǎo)于 80µ″

9

成品電(diàn)阻測試

1、C TO A測試

2、屏蔽層測試 殼對(duì)殼

3、壽命前後均要(yào)滿足阻抗要(yào)求

4、滿足協會(huì)規範1.1要(yào)求

25℃時(shí)實驗室測試标準：

Vbus: 0.135Ω大(dà) 

GND：0.135Ω大(dà)

線材規格1M,

電(diàn)源22AWG

10

溫升測試

TYPE C Vbus/GND通(tōng)電(diàn)(4對(duì)pin)，USBβ ©¶ AM單VBUS/GND通(tōng)電(diàn)3A

 TYPE C/USB AM非電(diàn)源pin腳通(t★×₽ōng)流0.2；

利用(yòng)shield//GND回流，通(tōng)流不δδ(bù)低(dī)于3A

l 25℃時(shí)測試

l 溫度穩定30分(fēn)鐘(zhōng)後測試

l 針對(duì)plug單體(tǐ)和(hé)cable組件(jiàn)整體(tǐ)的(de)兩£¶✔≠項測試均需滿足

l 任意點溫升不(bù)允許超過30度

USB Type-C Cable and Connector Specification

11

接觸阻抗

LLCR 是(shì)從REC 焊接點的(de)尾部到(dào)Plug焊點,包括¥×§¶Plug端和(hé)Rec所有(yǒu)內部的(de)端子(♠♥ zǐ)和(hé)Paddle Cards

* 使用(yòng)四線測試法

* 測試電壓20mV大(dà),電流100mA.α©✔

VBUS/GND 初始接觸阻抗30mΩ,其他(tā)pin初始接觸阻抗40m§ ₽Ω Max 大(dà),所有(yǒu)Pin環境測試∏♠÷♥後LCCR大(dà)增量為10 mΩ

連接器(qì)

13

耐壓測試

兩兩pin之間(jiān)打（含外(wài)殼）

l 認證測試：100VAC/60s/0.5mA

l 産線測試：100VAC/0.1s/0.5mA

14

絕緣電(diàn)阻

兩兩pin之間(jiān)打（含外(wài)殼）

l 認證測試： 300VDC 60s  100MΩ

l 産線測試：300VDC/0.1s/10MΩ

15

高(gāo)溫存儲

轉接頭：

（70±2）℃,24H

完成後返回常溫停留24小(xiǎo)時(shí)以上(shàng),進行(xíng)測試

連接器(qì)：

（105±2）℃,120H

完成後返回常溫停留24小(xiǎo)時(shí)以上(shàng),進行(xíng)測試

l 部品外(wài)觀無損壞;

l 線纜電(diàn)氣性能(néng)正常

16

低(dī)溫存儲

（-40±2）℃,120H

完成後返回常溫停留24小(xiǎo)時(shí)以上(shàng),進行(xíng)測試

l 樣品外(wài)觀無損壞;

l 線纜電(diàn)氣性能(néng)正常

17

溫度沖擊

采用(yòng)兩箱法，低(dī)溫-40℃，高(gāo)溫70℃，高(gāo)低(dī)溫各停留不(bù)少(shǎo)于20分(&"'fēn)鐘(zhōng)，大(dà)轉換時(shí)間(jiān)為(wèi)20秒(miǎo→ ≈ε)，
10個(gè)循環。

l 測試後，樣品外(wài)觀、機(jī)械結構應正常，功能(nén£∞±g)和(hé)電(diàn)氣性能(néng©←)應正常

18

鹽霧測試

5% NaCl,35℃, 連續噴霧48小(xiǎo)時(shí)（針對(duì)pin針‍'，uB鐵(tiě)殼部分(fēn)應可(kě)承受至少(shǎo)24H連續噴霧），噴霧≠γ©ε時(shí)接口需斜向下(xià)放(fàng)置，确保鹽霧能(☆≠'néng)進入，但(dàn)同時(shí)不(bù)能(néng)在接口中形成積水(shuǐ)。然¶•↔後移出進行(xíng)2小(xiǎo)時(shí)晾幹。

l 試驗後，樣品外(wài)觀應無明(míng)顯鏽蝕、變←δ色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。

l VBUS/GND 初始接觸阻抗30mΩ,其他(tā)pin初始接觸阻抗40mΩ M✘δ♣ax 大(dà),所有(yǒu)Pin環境測試後LCCR大(dà)增量為10 mΩ(僅針 α對(duì)連接器(qì))

EIA 364

19

高(gāo)溫高(gāo)濕

試驗溫度（70±2）℃ ，濕度(85±3)%RH，進行(xíng)168小(xiǎo)✔§時(shí)

l 樣品外(wài)觀無損壞;

主要(yào)考察膠料和(hé)線料

20

交變濕熱(rè)

25～55℃，相(xiàng)對(duìλ<π)濕度（95±3）％，168小(xiǎo)時(shí→♠£₹)

l 測試後，樣品外(wài)觀、機(jī)械結構應正常，功能(néng)和(hé)電(diàn)氣性能✔δδ(néng)應正常

主要(yào)考察端子(zǐ)

21

混合氣體(tǐ)腐蝕測試

測試時(shí)間(jiān)：7天,

産品狀态：5天非配插，5天配插，

溫濕度：70%RH， 30℃,

氣體(tǐ)種類：Cl2：10+/-3 ppb, NO2: 200Ω✘​♣+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 ppb, SO ✘→2: 100+/-20 ppb

l 試驗後，樣品外(wài)觀應無明(míng)顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn) ∏象，功能(néng)應正常。

l VBUS/GND 初始接觸阻抗30mΩ,其✘'他(tā)pin初始接觸阻抗40mΩ Max 大(​♣≈§dà),所有(yǒu)Pin環境測試後LCCR大(dà)增量為10 mΩ(僅針對(duì)連δ✔δ接器(qì))

連接器(qì)

22

耐化(huà)學溶劑測試

将家(jiā)用(yòng)化(huà)學物(wù)品（1.護手霜；2.防曬乳液；3.口紅(hóng)；4.化(huà)妝粉底；5.驅蟲凍膠；6.食用(yòng)油，所用(yòng)化(huà)學用(yòng)品型号或‍&β配方為(wèi)我司終端現(xiàn)有(yǒu)用(y↔'&♦òng)品）塗在線纜、SR、殼體(tǐ)上(shàng)。放(fàng)置72小(xiǎo)時(shí)後用(yòng)水(shuǐ)清洗掉家(jiā)用(yòng)化(©♣huà)學品再放(fàng)置兩個(gè)小(xiǎo)時(shí)後檢♠≤¶β查2.将以下(xià)溶劑（1.汽油；2.酒精；3.人(rén)工(gōng)汗液；4.5%食鹽水(shuǐ)，所用(yòng)化(huΩ<≤à)學用(yòng)品型号或配方為(wèi)我司終端現(xiàn)有(yǒu∑≥&÷)用(yòng)品）塗在線纜、SR、殼體(tǐ)上(shàng)。放(fàng)置72小(xiǎo)時(shí)（汽油放(fàng)置24小(xiǎo)時(shí)）後用(yòng)水(shuǐ)γ←σ清洗掉溶劑再放(fàng)置兩個(gè)小(x"♣iǎo)時(shí)後檢查

l 線纜、SR、殼體(tǐ)不(bù)會(huì)有(yǒu)明(mí∞♥ng)顯腐蝕、開(kāi)裂

23

耐UV輻射測試

耐UV輻照(zhào)

進行(xíng)1個(gè)循環為(wèi)24小(xiǎo)時(shí)的(de)測試，具體(tǐ)為(wèi)在幹熱(rè)40℃下(xià)，太陽輻射強度為(wèi)1120W/㎡，保持20小(xiǎo)時(shí)，再關閉太陽輻射源4小(xiǎo)時(shí)，試驗持續循環96小(xiǎo)時(shí)

24

EMC

參考終端産品USB數(shù)據線充電(diàn)線可(kě)↕¶↓靠性測試規範V1.2

l EMC class A标準

l CE/FCC

25

Differential Impedance

This test ensures that the D+/D− lines of the cable assembly have the proper im≠↑∞&pedance.

For the entire cable assembly.

75 ohms min and 105 ohms ma"εx.

400 ps rise time (20%-80%).

EIA 364-108

26

Propagation Delay

The purpose of the tesλφ‍¶t is to verify the end-to-end ↔©≤propagation of the D+/D− lines of the cable assembly.

20 ns max.

400 ps rise time (20%-80∞φ%).

EIA 364-103

27

Intra-pair Skew

This test ensures that the signal on both th&≠e D+ and D− lines of cable assembly arrive at tγ©♥ he receiver at the same time.

100 ps max.

400 ps rise time (20%-80%).

EIA 364 – 103

D+/D− Pair Attenuation

This test ensures the D+/D− pair of a cable assembly is able to provid®γε♦e adequate signal strength to the receiver in o וrder to maintain a low error r¶✔∏ate.

≥ −1.02 dB @ 50 MHz

≥ −1.43 dB @ 100 MHz

≥ −2.40 dB @ 200 MHz

≥ −4.35 dB @ 400 MHz

EIA 364 – 101